渦流陣列檢測(cè)的應(yīng)用和能力

渦流陣列（ECA）是一種無損檢測(cè)技術(shù)，具有以電子方式驅(qū)動(dòng)并排放置在同一個(gè)探頭組件中的多個(gè)渦流線圈的能力。探頭中每個(gè)單獨(dú)的渦流線圈都會(huì)產(chǎn)生一個(gè)相對(duì)于其下方結(jié)構(gòu)的相位和波幅的信號(hào)。這種數(shù)據(jù)與編碼位置和時(shí)間關(guān)聯(lián)，并以C掃描圖像形式表示。大多數(shù)傳統(tǒng)的渦流探傷技術(shù)都可以通過使用渦流陣列（ECA）檢測(cè)重現(xiàn)，不過，ECA技術(shù)具有顯著優(yōu)勢(shì)，可提高檢測(cè)能力，并大幅節(jié)省時(shí)間。

ECA技術(shù)包括以下優(yōu)勢(shì)特性：

在保持高分辨率的同時(shí)，單次探頭掃查可以覆蓋更大的區(qū)域。

不太需要復(fù)雜的機(jī)器人技術(shù)來移動(dòng)探頭，只需簡(jiǎn)單的手動(dòng)掃查就足以完成檢測(cè)。

C掃描成像提高了缺陷探測(cè)和定量性能。

可以使用根據(jù)被檢測(cè)工件的輪廓定制的探頭對(duì)具有復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)。

如果您想投資渦流設(shè)備，了解其應(yīng)用和能力非常重要。在這篇文章中，我們將講述各行業(yè)可以通過哪些不同方式使用渦流檢測(cè)(ECT)來滿足特定的監(jiān)管和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。我們還將就每種應(yīng)用的檢測(cè)方法和設(shè)備提供建議。

鉚釘檢測(cè)

探頭中每個(gè)單獨(dú)的渦流線圈都會(huì)產(chǎn)生一個(gè)相對(duì)于其下方結(jié)構(gòu)的相位和波幅的信號(hào)。根據(jù)ECT儀器的成像能力，該數(shù)據(jù)涉及編碼位置和時(shí)間，并用圖形方式表現(xiàn)為C掃查圖像。當(dāng)渦流線圈經(jīng)過有缺陷的鉚釘時(shí)，它們會(huì)產(chǎn)生的信號(hào)響應(yīng)。對(duì)于受鉚釘孔引起的裂紋影響的線圈，在C掃查顯示中會(huì)表現(xiàn)出波幅變化。對(duì)于未檢測(cè)到變化的線圈，顏色表現(xiàn)在C掃查顯示中保持不變。

腐蝕探測(cè)

與傳統(tǒng)的渦流檢測(cè)方法相比，使用渦流陣列(ECA)技術(shù)的腐蝕探測(cè)優(yōu)勢(shì)明顯。每個(gè)單獨(dú)的渦流線圈都會(huì)產(chǎn)生與其下方結(jié)構(gòu)相關(guān)的電信號(hào)。線圈可以探測(cè)材料厚度非常微小的變化以及其他參數(shù)，并將這些變化顯示為彩色編碼的C掃查圖像。使用渦流陣列成像可以輕松解讀探頭線圈產(chǎn)生的數(shù)據(jù)。檢測(cè)數(shù)據(jù)收集后，可以進(jìn)行存儲(chǔ)、傳輸和分析。

裂紋探測(cè)

渦流裂紋探測(cè)設(shè)備分為用于發(fā)現(xiàn)鐵性和非鐵性原料表面裂紋的高頻設(shè)備，和用于發(fā)現(xiàn)非鐵性原料表面下裂紋的低頻設(shè)備。渦流檢測(cè)在探測(cè)表面裂紋時(shí)非常敏感。2 MHz量級(jí)的頻率分辨率高，但探頭小，因此覆蓋較大的表面區(qū)域時(shí)非常耗時(shí)。

低頻裂紋探測(cè)器需要更大的探頭才能實(shí)現(xiàn)合適的線圈電感。還需要相位傳感電路，因?yàn)楸砻嫦聢?chǎng)受相位變化的影響。頻率設(shè)置對(duì)于探測(cè)非鐵性原料中的表面下裂紋至關(guān)重要；根據(jù)焊透深度，目標(biāo)范圍為100 Hz至100 kHz。

管材和線材檢測(cè)

渦流檢測(cè)可用于以高達(dá)3 m/s的速度探測(cè)管材、棒材和線材中的缺陷。這是使用自動(dòng)化系統(tǒng)完成的，這些系統(tǒng)會(huì)彈出或標(biāo)記具有已知缺陷的管材或線材。恒定的檢測(cè)速度和差分線圈使測(cè)試信號(hào)能夠隨速度調(diào)制，然后過濾以去除噪波。使用不同的線圈可能導(dǎo)致有缺陷的管材通過渦流系統(tǒng)而未被探測(cè)到。使用渦流檢測(cè)進(jìn)行管材和線材檢測(cè)的行業(yè)還應(yīng)注意邊緣效應(yīng)和擠壓缺陷。由于邊緣效應(yīng)，無法探測(cè)管材末端，并且由于渦流場(chǎng)的強(qiáng)度為零，因此無法探測(cè)沿棒材中心的擠壓缺陷。

聚光鏡鏡筒檢測(cè)

渦流技術(shù)還用于檢測(cè)聚光鏡鏡筒。鏡筒變薄是聚光鏡中最常見的缺陷。當(dāng)在ECT儀器上選擇稱為f90的頻率時(shí)，外表面減薄產(chǎn)生的信號(hào)可能與內(nèi)表面減薄產(chǎn)生的信號(hào)存在90°的異相。通過在雙通道帶狀圖記錄器上記錄阻抗示意圖中的X和Y信號(hào)，可以在200–300 mm/s的檢測(cè)速度下確定變薄程度。

分隔聚光鏡鏡筒的擋板可能會(huì)在檢測(cè)過程中引起問題。鏡筒通常是非磁性的，由不銹鋼、銅鎳合金或鈦制成。擋板是鐵性的，并且磁導(dǎo)率信號(hào)會(huì)干擾來自鏡筒和擋板之間的變薄信號(hào)。某些設(shè)備旨在克服這個(gè)問題，同時(shí)使用兩個(gè)頻率，然后混合兩個(gè)信號(hào)以去除有害的磁導(dǎo)率效應(yīng)。

材料分揀

可以使用不同的渦流方法來區(qū)分某些材料。電導(dǎo)率計(jì)可用于對(duì)鋁和銅合金材料進(jìn)行分揀，而鐵性和電磁分揀橋用于確定哪些鋼已經(jīng)硬化并將它們分離。渦流檢測(cè)方法可以提供更好的原料特性樣品，因?yàn)樗鼈兛梢詽B透到表面以下。它還是一種非?？焖?、高效的方法。

焊縫檢測(cè)

高頻渦流設(shè)備可用于探測(cè)鐵性焊縫中的缺陷。使用渦流檢測(cè)的好處是，可以透過漆層探測(cè)到裂紋，如果您不想以任何方式損壞檢測(cè)原料，這種方法特別有用。缺點(diǎn)是磁導(dǎo)率會(huì)發(fā)生變化，并且粗糙焊帽表面產(chǎn)生的剝離噪波可能會(huì)影響檢測(cè)的成功。一些設(shè)備用于補(bǔ)充水下磁粉檢測(cè)，從而將明顯的虛假缺陷指示與焊趾裂縫區(qū)分開來。這在一定程度上有助于克服焊縫檢測(cè)的某些問題。

鍍層厚度測(cè)量

高近表面分辨率有助于使渦流檢測(cè)用于準(zhǔn)確測(cè)量金屬基材（金屬漆和漆層）上涂層的厚度。

螺栓孔檢測(cè)

螺母、螺栓和螺栓孔需要精心設(shè)計(jì)才能確保滿足某些技術(shù)規(guī)格。這對(duì)于航空航天等行業(yè)的健康和安全可能至關(guān)重要。渦流檢測(cè)設(shè)備可用于多層螺栓孔檢測(cè)以識(shí)別出現(xiàn)缺陷的層。螺栓孔缺陷通常較小且難以探測(cè)，渦流技術(shù)利用電磁場(chǎng)以高準(zhǔn)確度和速度探測(cè)很小型的不規(guī)則目標(biāo)。

渦流檢測(cè)應(yīng)該多久進(jìn)行一次？

理想情況下，渦流檢測(cè)將每3到5年進(jìn)行一次，但如果發(fā)生有源損傷，則應(yīng)更頻繁地進(jìn)行檢測(cè)，并應(yīng)密切監(jiān)控?fù)p傷以確保符合某些監(jiān)管以及健康和安全標(biāo)準(zhǔn)。建議在年度檢測(cè)中包括渦流檢測(cè)，以確保充分的規(guī)律性。

如果您正在為上述應(yīng)用之一尋找合適的渦流檢測(cè)設(shè)備，可以找到更多有關(guān)探傷儀和探頭的信息。如果您想詳細(xì)了解這項(xiàng)技術(shù)的實(shí)際應(yīng)用情況，我們的應(yīng)用注解重點(diǎn)介紹了我們產(chǎn)品的實(shí)際用例。